Zusammenfassung

Um bestimmen zu können, ab wann eine Probe, eine Verpackung oder eine Oberfläche als verschmutzt zu gelten hat, müssen bestimmte Festlegungen getroffen werden. Zum Teil kann man sich an Normen orientieren, die genaue Vorgaben machen, was als Verunreinigung zählt und wie diese zu analysieren sind. Für manche Bereiche existieren jedoch keine Normen oder man entscheidet sich bewusst dafür, strengere Richtlinien als die Norm anzuwenden. In anderen Fällen ist es notwendig und sinnvoll, branchenweit übliche oder firmeninterne Festlegungen zu vereinbaren.

Um genau definieren zu können, was als Verunreinigung gilt, sind oft schon Vorkenntnisse darüber notwendig, woher die Verschmutzung kommt und ob diese überhaupt vermeidbar ist. Kann die Verunreinigung im Produktions- oder Verarbeitungsprozess nicht umgangen werden, so muss eine Methode gefunden werden, um sie z. B. nach Art oder Größe zu klassifizieren. Dabei ist darauf zu achten, dass ein geeignetes Verfahren gewählt wird. Das gewählte Analyseverfahren dient einerseits dazu, den Verschmutzungsgrad verschiedener Proben miteinander vergleichen zu können. Andererseits sollen damit eventuell notwendige Reinigungsschritte auf ihre Effektivität hin überprüfbar sein. Die einzusetzenden Verfahren müssen genau auf die zu reinigende Probe abgestimmt werden. Ansonsten können nach der Reinigungsprozedur unerwünschte Effekte auftreten.

Der nachfolgende Artikel wird insbesondere auf die Voraussetzungen und Fehlermöglichkeiten verschiedener Analyseverfahren eingehen. Weiter werden unterschiedliche Reinigungsverfahren und die dabei zu beachtenden Besonderheiten vorgestellt. Somit wird das entsprechende Wissen vermittelt, um die für die jeweilige Anwendung geeignete Möglichkeit auszuwählen.

Korrespondenz:

Prof. Dr. Juliane König-Birk, PAMAS Partikelmess- und Analysesysteme GmbH, Dieselstr.10, 71277 Rutesheim,
e-mail: juliane.koenig-birk@pamas.de

Prof. Dr. Juliane König-Birk Nach einem Studium der Physik an der Universität Konstanz promovierte Frau Prof. Dr. König-Birk über „Nahfeldphotographie mit kurzen Laserpulsen“. Nach der Promotion ging sie in die Industrie zur Pamas GmbH (Partikelmess- und Analysesysteme). Dort war sie in der Entwicklungsabteilung für die Neuentwicklung von Sensoren zuständig. Dies umfasste den gesamten Prozess von der Idee, über die Entwicklung bis zur Serienreife.