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In der Rubrik Zeitschriften haben wir 1 Beitrag für Sie gefunden

  1. Christian Wendt
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    Swabs für die chemische Spurenanalytik auf kritischen Oberflächen

    Rubrik: Reinigung & Desinfektion

    (Treffer aus cleanroom & processes, Nr. 04, Seite 180 (2023))

    Wendt C | Ernst H | Ventre A

    Swabs für die chemische Spurenanalytik auf kritischen Oberflächen / Anwendung in der Reinraumtechnik und in der Raumfahrt · Wendt C, Ernst H, Ventre A · Clear & Clean Werk für Reintechnik GmbH, Lübeck und OHB System AG, Bremen
    Analyse und Quantifizierung von organisch-filmischen Verunreinigungen spielen in den Industrien der Zukunft eine wichtige Rolle. Insbesondere nicht direkt analysierbare Oberflächen mit hohen Reinheitsanforderungen, wie im Fall von optischen Satelliten, sind eine Herausforderung.